Diatest塞規式孔徑測量?jì)xBMD測頭選型介紹德國Diatest公司于1948年由Hermann Költgen先生創(chuàng )辦，總部坐落在達姆施塔特，Diatest用戶(hù)更是遍布世界各地。

Diatest塞規式測量頭選型介紹德國Diatest公司于1948年由Hermann Költgen先生創(chuàng )辦，總部坐落在達姆施塔特，Diatest用戶(hù)更是遍布世界各地。

4系列標準型電子塞規產(chǎn)品簡(jiǎn)介：DIATEST塞規式測量系統*的導向體設計,保證了測量結果的可靠性,解決了孔徑測量的對中難題,減少了人為因素對測量結果的影響,可方便、快速、準確得出測量結果。

6系列通孔兩點(diǎn)式塞規產(chǎn)品簡(jiǎn)介：DIATEST塞規式測量系統*的導向體設計,保證了測量結果的可靠性,解決了孔徑測量的對中難題,減少了人為因素對測量結果的影響,可方便、快速、準確得出測量結果。

6系列標準孔兩點(diǎn)式塞規產(chǎn)品簡(jiǎn)介：DIATEST塞規式測量系統*的導向體設計,保證了測量結果的可靠性,解決了孔徑測量的對中難題,減少了人為因素對測量結果的影響,可方便、快速、準確得出測量結果。